透射电子显微镜 (TEM) / 扫描透射电子显微镜 (STEM) 校准标样

货号 638

复合 TEM 测试标样 金 / 石墨化碳测试标样

用途　评估显微镜性能限制因素 · 观察晶格条纹 · 测量污染速率

在有孔碳膜上蒸镀金，并沉积石墨化碳颗粒。这些颗粒在孔上方观察时，可用于评估限制显微镜性能的各种因素；蒸镀的金形成小的多晶岛，在岛内可以分辨晶格条纹；同时可通过观察金膜孔内碳的沉积速率，测量电子显微镜中的污染速率。

有孔碳膜 + 蒸镀金
石墨化碳颗粒
晶格条纹可分辨
污染速率监测

货号 628-B

金阴影乳胶颗粒标样

用途　STEM 点分离分辨率测试

直径 0.204 µm 乳胶颗粒，表面覆有较厚金涂层，金形成强散射岛，衬度优异，非常适合 STEM 点分辨率测试。

技术要点
· 最小的金颗粒分布在乳胶球阴影边缘，点分离分辨率检查应在此区域选取测试点
· 判定方法：刚好可分辨为分离的两颗粒中心距离，即为分辨率的度量
· 电子辐照具有统计性，底片上可能出现不代表样品结构的局部黑斑——须在同一焦距下对同一视野连续拍摄两张照片，两张中均可辨认的点对方可用于性能判定
· 应选取多个不同取向的点对，以排除方向性像缺陷；如有光学衍射计，建议用于读取底片，结果更可靠

乳胶颗粒 Ø 0.204 µm
厚金涂层
STEM 强散射

货号 619

铝衍射标样（相机长度校准）

用途　校准选区衍射模式的有效相机长度

选区模式下电子显微镜的有效相机长度标称值对于晶格间距计算不够准确，必须通过已知衍射间距的物质进行校准。本标样采用厚度约 31 nm 的蒸镀铝膜，极小的晶粒尺寸产生适合校准的环形衍射图案，随附一份主要晶格间距列表。

技术要点
· 标样与待测样须在相同透镜电流 / 高压条件下曝光，并保持相同的样品位置（可微调样品台以获得更清晰图案）
· 计算方法：先测标样衍射环直径 S（cm），按附表 d 值以 K = S × d 求出相机常数；前 5 条环的 K 值相互偏差应小于 1%，取平均值后再测量待测样并反推 d 间距
· 附铝 ASTM d 间距表（共 9 条衍射线）：111–2.338 Å、200–2.024 Å、220–1.431 Å、311–1.221 Å、222–1.169 Å 等，平均晶胞 a = 4.0494 Å

蒸镀铝膜 ~31 nm
环形衍射图案
附晶格间距表
G400 铜网

货号 625

三氧化钼图像旋转标样

用途　观察图像与衍射图案之间的旋转关系

当从样品图像切换到衍射图案时，中间镜强度变化会导致图像旋转。三氧化钼（MoO₃）晶体形状清晰规整，可直观显示取向变化，便于测定图像—衍射旋转角。

技术要点
· 选择无重叠的薄晶体，以获得清晰的 Laue 衍射图
· 从衍射图出发改变衍射镜强度，直至每个衍射斑点显示晶体小像，据此判断图像旋转方向，并检查衍射位置与选区放大之间是否存在像反转
· 旋转角测量：在同一张底片上同时记录图像与衍射图，结合旋转方向与像反转确定实际旋转角
· 注意：从电镜中取出标样后，须清洁样品杆上粘附的三氧化钼

MoO₃ 晶体
形貌清晰直观
G400 铜网

货号 677

500 nm 交叉线光栅标样

用途　中低放大倍率校准（最高约 100,000×）

带有 Au/Pd 阴影的碳复制品，基于具有清晰沟槽的交叉线光栅。平行线间距为 500 nm（2000 线/mm），沟槽设计便于精确测量。

线间距 500 nm ±1%
2000 线/mm
Au/Pd 阴影
≤ ~100,000×
G400 铜网

货号 673

500 nm 带乳胶球交叉线光栅标样

用途　高放大倍率双重校准（最高约 150,000×）

两合一标样，同时提供交叉线光栅与直径 261 nm 乳胶球，一次观测即可对放大倍率进行双重验证。

技术要点
· 乳胶球存在尺寸涨落，不作为精确测定倍率的依据（结果与光栅法相近），主要用于直观参照——判断其他样品中目标结构可见的最低倍率；精确校准以光栅间距为准
· 始终以最低舒适照明观察，避免乳胶球退化

500 nm 光栅 + Ø 261 nm 乳胶球
倍率双重验证
≤ ~150,000×
G400 铜网

货号 606

2160 线/mm 平行线光栅标样

用途　常规放大倍率校准（约 40–50,000×）

带有 Au/Pd 阴影的碳复制品，平行线光栅 2160 线/mm，线间距 462.9 nm。

2160 线/mm
线间距 462.9 nm ±1%
~40–50,000×
G400 Gilder 网格

货号 607

2160 线/mm 网格（栅格）光栅标样

用途　较高放大倍率校准（约 80–100,000×）

带有 Au/Pd 阴影的碳复制品，双向 2160 线/mm 网格（栅格）图案，可同时校准 X / Y 两个方向的放大倍率。

双向网格 2160 线/mm
X / Y 同步校准
~80–100,000×
G400 Gilder 网格

货号 603

2160 线/mm 带乳胶球光栅标样（常规版）

用途　高放大倍率放大倍率双重校准

两合一标样：直径 0.261 µm 乳胶球 + 2160 线/mm 碳光栅（Au/Pd 阴影），光栅定标、乳胶球复核，一次装载完成双重验证。

技术要点
· 乳胶球存在尺寸涨落，不作为精确测定倍率的依据（结果与光栅法相近），主要用于直观参照——判断其他样品中目标结构可见的最低倍率；精确校准以光栅间距为准
· 始终以最低舒适照明观察，避免乳胶球退化

Ø 0.261 µm 乳胶球
2160 线/mm
倍率双重验证
G400 Gilder 网格

货号 607-A

2160 线/mm 网格光栅标样（特殊应用版）

用途　像差校正器校准 · Serial EM 校准（推荐用于高端应用）

专为像差校正和 Serial-EM 优化。采用老款风格光栅，含有更多缺陷、图案清晰度稍低，但更适合像差测量等特殊应用。光栅规格与 607 一致（2160 线/mm），通用参数与使用方法参照上方 607说明。

老款风格光栅
像差测量优化
Serial EM 适用
G400 铜网

货号 603-A

2160 线/mm 带乳胶球光栅标样（特殊应用版）

用途　像差校正器对准 · Serial EM 校准 + 放大倍率双重验证

结合老款光栅优点与直径 0.261 µm 乳胶球，适用于像差校正器对准和 Serial EM，同时支持放大倍率校准。光栅规格与 603 一致（2160 线/mm），通用参数与乳胶球观察注意事项参照上方 603说明。

老款光栅 + Ø 0.261 µm 乳胶球
像差校正器对准
倍率双重验证