关键尺寸扫描电镜（CD-SEM）技术解读
无论是实验室通用型还是用于集成电路结构和尺寸测量的专用设备，SEM的基本工作原理基本一致。SEM之所以得名，是因为它利用细聚焦的电子束，以精确的光栅扫描模式（通常为矩形或正方形）逐点扫描样品表面。
SEM的电子束来自电子源，通常在0.2千伏到30千伏的加速电压下运行。在半导体生产中，CD-SEM多在0.4千伏至1千伏的电压范围内工作。电子束沿镜筒向下，通过一个或多个电子光学聚光镜被缩小，其直径从几微米逐渐收缩到纳米量级。
在SEM中实现4D-STEM及其晶体学应用
作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/tp4Kp5kogCBN43bjx7JT0A 四维扫描透射电镜（4D-STEM）是一种通过聚焦电子束在电子透明样品上扫描，同时收集实空间和倒易空间的二维图像的技术。这种方法产生四维数据集，因此得名4D-STEM。 需要明确的是，这里的维度并不涉及时间；而是指所得四维数据集包含空间和衍射信息。具体来说，两个维度代表样品中的x和y坐标（实空间位置），而另外两个维度代表每个位置处的衍射图案中的kx和ky坐标（倒易空间）。...
环境扫描电镜（ESEM）成像技术解读
扫描电镜(SEM)自问世以来，已成为材料科学、生物学等领域不可或缺的研究工具。然而，常规扫描电镜(CSEM)在样品制备及成像方面存在明显局限：需要高真空环境、样品必须导电或经过导电处理（低电压成像可不镀导电膜），且必须处于干燥状态。这些限制极大地约束了其在某些领域的应用潜力，特别是对于湿态样品或绝缘材料的研究。
环境扫描电镜(ESEM)技术的出现，为克服这些限制提供了新的解决方案。
TEM样品制备技术对比
TEM样品制备技术对比
扫描电镜的分辨率和测量标准化问题讨论
扫描电子显微镜（SEM）的分辨率是其核心性能参数之一，传统定义是指能够区分两个相邻物体的最小距离，但该定义在实际场景中较为模糊，不同仪器制造商甚至采用不同的计算标准。这一概念可能指成像或空间分辨率，通常用来衡量样品细节的清晰度，例如微小间隙的分辨能力或图像的锐利程度——这与样品边缘信号转换的变化率密切相关。同时，它也可能指测量分辨率，即定量区分样品特征或测量特性的能力，强调测量精度/重复性。
透射电镜样品制备技术指南：材料科学篇
使用透射电镜（TEM）的第一步是样品制备，这步骤是确保获得有价值TEM结果的重中之重。制备的TEM样品一般需满足以下几个基本要求：
1. 保持样品的原始结构：尽量减少人工痕迹，即使引入也必须可识别；
2. 尽可能薄：样品厚度至少需小于100纳米，确保电子束能够穿透；
3. 具备物理支撑：以利于样品架的装载和取出；
4. 具备机械稳定性：避免因震动导致图像缺陷；
5. 样品需脱水或冷冻：以减轻在真空环境下的蒸气或气体释放；
6. 最好具有导电性：避免充电效应带来的损伤；
7. 表面需清洁：最大限度减少污染。
如何制备透射电镜（80-120kV）生物样品？
与干燥和浓缩的材料样品不同，大多数生物样品都是含水的或水合的，含有大量的水分。它们质地柔软，由H、C、N、O、S和P等轻元素组成，且不具有导电性。因此，生物样品的制备需要多个步骤才能获得TEM样品。生物样品通常包括颗粒样品以及细胞和组织样品。
各品牌离子溅射仪靶材尺寸表
环形溅射靶选型表 品牌 型号 尺寸 Anatech / Technics Hummer V / VI / 6.2 / 8 3” O.D. X 2” I.D Polaron / Biorad E5100 / E5150 / E5175 / SC510 / SC515 82mm O.D. X 60mm I.D Polaron / Quorum SC7640 / SC7680 82mm O.D. X 60mm I.D Polaron 镀膜仪也以 Bio-Rad、Fisons、VG Microtech、Thermo VG、Emscope...
我国科学家研发新型便携式叶片气孔表型检测技术
近日，华中农业大学作物遗传改良国家重点实验室作物表型团队教授杨万能课题组研发了一种叶片气孔表型测量新技术
2019年全国电子显微学学术年会在合肥成功举办
2019年10月16日，由中国电子显微镜学会主办的“2019年全国电子显微学学术年会”在合肥市丰大国际酒店盛大开幕。大会为期3天，10个分会场，吸引了来自大专院校、科研院所、企业等电子显微镜学领域专家学者一千多人出席，为中国电镜人带来一场学术盛宴。
