作者：孙千（编译） 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/QTTIZ4CsDic16XPDSKhXHA...

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/W4I3vKHGe9I3FJp_xjPv0g 电子背散射衍射（EBSD）是材料表征晶粒取向的核心技术，过往发展多聚焦于标定速度与后处理算法，对图案形成的底层物理机制认知仍有欠缺。Alwyn Eades 团队通过能量过滤装置分离不同能量的背散射电子（Energy Filtering in EBSD），系统拆解了各能量段电子对图案的贡献，验证了能量过滤对图案质量与空间分辨率的提升作用。 一、背散射电子的能量分布基础...

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/E1rc2JumOOuDbuNm4RgX1Q 在金属、陶瓷、功能薄膜的微观表征日常工作里，电子背散射衍射（EBSD）是各大高校测试平台、课题组统一使用的数据分析工具。很多初次接触EBSD的学生完成SEM扫描、完成花样标定后，仅能看懂软件自带IPF取向衬度图，面对论文高频出现的极图、反极图、ODF 取向分布函数时常无从下手。...

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/3s1JqUMBcSGptufMqYeHmg 原位 EBSD 技术的进步，依托两大核心技术的协同发展：一是自动化衍射图案分析技术，二是 SEM 硬件技术。1992 年，首台全自动 EBSD 系统问世，单张衍射图案分析耗时约 4 秒，受限于采集速度，早期原位研究仅能开展简单的拉伸、加热实验。1993 年，该技术被命名为取向成像显微术（OIM），标志其功能从单一衍射图案分析，升级为可定量表征晶体取向分布。...

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/89OetLg_VhClziJ6_sDs0g 传统选区电子衍射（SAD）受物镜球差与选区光阑放置位置的双重限制，有效空间分辨率仅达亚微米级别，即便采用球差校正电镜也仅能提升至 100 纳米左右，无法满足纳米颗粒、位错核心等表征需求；同时薄样品、小晶粒会放宽布拉格衍射条件，导致 SAD 仅能提供精度有限的二维晶体投影信息，难以还原晶体真实三维结构。...

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/MWlXZ0cWi_LJSd-CTlcqtg 1968 年，基于半导体探测器的能量色散 X 射线能谱（EDS）首次应用于电子探针微区分析（EPMA）领域，至今已历经五十八年的发展演进。从最初仅可完成快速定性元素筛查的辅助手段，到如今依托硅漂移探测器（SDD）技术达到与波长色散谱（WDS）相当的定量精度，EDS 已成为扫描电镜与电子探针平台上应用最广泛的微区成分表征方法。...

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/WqH6qm9npMLsxfEqjpCG_w 从日常的不锈钢餐具到高压容器、桥梁钢板，金属材料的强度、韧性、抗疲劳寿命，本质上都和内部位错的运动与堆积密切相关。作为晶体中的线缺陷，位错的密度高低直接决定了金属的屈服强度、加工硬化速率，也影响着结构件的长期服役可靠性。...

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/8kMaNeyRedZpHXfhG6RFcw 氢原子只有一个质子和一个电子，看似简单，却决定着许多化学和生物过程的走向。但也正因为它的电子太少，即使用大晶体做 X 射线衍射实验，也很难直接观测到它。如果样品是多晶材料 —— 也就是由无数微米级小晶粒组成的材料，单个体积不到 100 立方微米 —— 只能用粉末衍射法，这时要探测氢原子就几乎不可能，除非把所有氢换成重氢（氘）做特殊处理。...

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/HsQQ-pt_h80Uff0GqCvoxw?relatedSceneType=0 透射电镜（TEM）能让我们看到晶体里原子级别的细节，而图像里的明暗变化，本质上都来自高能电子束和晶体原子的相互作用。 当电子束穿过晶体时，只要原子面的角度刚好满足布拉格条件，就会产生一束衍射束。这束衍射束不会直接跑出晶体，它在传播过程中还会被其他原子面再次散射，和原本没被散射的直接束来回交换能量，这个反复散射的过程就是动力学衍射。...

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/r94cXw4EJIzNjRhrIWWc_A 二次电子（SE）发射强度是扫描电子显微镜（SEM）进行样品形貌表征时最常使用的信号，借助现代场发射电子源与高灵敏度探测器，高端SEM已可稳定实现亚纳米级的空间分辨率。...