2026-08-10 | 行业新闻
作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/W4I3vKHGe9I3FJp_xjPv0g 电子背散射衍射(EBSD)是材料表征晶粒取向的核心技术,过往发展多聚焦于标定速度与后处理算法,对图案形成的底层物理机制认知仍有欠缺。Alwyn Eades 团队通过能量过滤装置分离不同能量的背散射电子(Energy Filtering in EBSD),系统拆解了各能量段电子对图案的贡献,验证了能量过滤对图案质量与空间分辨率的提升作用。 一、背散射电子的能量分布基础...
2026-08-03 | 行业新闻
作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/E1rc2JumOOuDbuNm4RgX1Q 在金属、陶瓷、功能薄膜的微观表征日常工作里,电子背散射衍射(EBSD)是各大高校测试平台、课题组统一使用的数据分析工具。很多初次接触EBSD的学生完成SEM扫描、完成花样标定后,仅能看懂软件自带IPF取向衬度图,面对论文高频出现的极图、反极图、ODF 取向分布函数时常无从下手。...
2026-07-30 | 行业新闻
作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/3s1JqUMBcSGptufMqYeHmg 原位 EBSD 技术的进步,依托两大核心技术的协同发展:一是自动化衍射图案分析技术,二是 SEM 硬件技术。1992 年,首台全自动 EBSD 系统问世,单张衍射图案分析耗时约 4 秒,受限于采集速度,早期原位研究仅能开展简单的拉伸、加热实验。1993 年,该技术被命名为取向成像显微术(OIM),标志其功能从单一衍射图案分析,升级为可定量表征晶体取向分布。...
2026-07-27 | 行业新闻
作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/89OetLg_VhClziJ6_sDs0g 传统选区电子衍射(SAD)受物镜球差与选区光阑放置位置的双重限制,有效空间分辨率仅达亚微米级别,即便采用球差校正电镜也仅能提升至 100 纳米左右,无法满足纳米颗粒、位错核心等表征需求;同时薄样品、小晶粒会放宽布拉格衍射条件,导致 SAD 仅能提供精度有限的二维晶体投影信息,难以还原晶体真实三维结构。...
2026-07-22 | 行业新闻
作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/MWlXZ0cWi_LJSd-CTlcqtg 1968 年,基于半导体探测器的能量色散 X 射线能谱(EDS)首次应用于电子探针微区分析(EPMA)领域,至今已历经五十八年的发展演进。从最初仅可完成快速定性元素筛查的辅助手段,到如今依托硅漂移探测器(SDD)技术达到与波长色散谱(WDS)相当的定量精度,EDS 已成为扫描电镜与电子探针平台上应用广泛的微区成分表征方法。...
2026-07-17 | 行业新闻
作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/WqH6qm9npMLsxfEqjpCG_w 从日常的不锈钢餐具到高压容器、桥梁钢板,金属材料的强度、韧性、抗疲劳寿命,本质上都和内部位错的运动与堆积密切相关。作为晶体中的线缺陷,位错的密度高低直接决定了金属的屈服强度、加工硬化速率,也影响着结构件的长期服役可靠性。...
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