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透射电镜中的电子能量损失谱(EELS)

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/o5XOS4GfSDE38o22fIAA8g 电子能量损失谱(EELS)是分析型电镜(AEM)里的核心表征技术,简单来说,它就是通过分析高能电子穿过样品后的能量分布情况,来获取样品的原子化学性质、电子结构、微观结构等关键信息的技术。...

透射电镜中的电子探测器

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/SWi0Nvdhkcn9wOPsh6TfQA 人类的眼睛无法直接感知电子,在透射电镜(TEM)中 “看见” 电子,核心是把电子与样品相互作用形成的无形电子强度分布,通过探测(显示)和记录两步,转化为肉眼能观测的可见光分布。随着电子成像与存储技术发展,这一过程正从模拟向数字变革,数字数据因定量分析便捷,逐渐取代传统照相数据。 电子探测与显示...

透射电镜(TEM)的结构与操作

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/JF7ODidI_s2Je4i-ugzgow 透射电子显微镜(TEM)是微观分析的核心仪器,由照明系统、物镜/样品台、成像系统三部分组成,统称 “镜筒”。电子沿镜筒向下传播,经各组件协同作用,完成电子束产生、样品作用、图像与衍射花样输出的全过程。本文将讨论各系统的结构、操作流程及校准方法,为仪器使用提供基础参考。 (1)照明系统:电子束的产生与调控...

商业超高分辨率显微镜的技术创新与应用

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/LuG8dimRVGQiAsjrxwWSmQ 超高分辨率显微镜技术的飞速发展,为生命科学研究提供了前所未有的观测工具,让科研人员能以纳米级精度看透细胞内部的精细结构和动态变化。 Louisa...

透射电镜中的EDS空间分辨率与最小检测限

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/6ouN6rpV5QlFLBb1EK9vlg 在透射电镜(TEM)的X射线分析领域,研究人员始终致力于获取接近空间分辨率极限的物质信息,而这一目标的实现离不开对各项控制因素的深入理解。空间分辨率与最小检测限作为分析过程中的核心指标,二者存在紧密且复杂的关联,同时TEM样品厚度的精准测量也对分析结果的可靠性起着关键作用。 随着TEM –...

碳保护层:FIB 制备优质(S)TEM 样品的优选方案

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/5V-za4_IiBuSf8K768QXdA 制备扫描电镜(SEM)或透射电子显镜(TEM)样品时,聚焦离子束(FIB)横截面切割是关键步骤。为避免切割中出现条纹伪影,同时防止离子注入损伤样品最外层约 50 纳米区域,行业常用 FIB 辅助化学气相沉积(CVD)技术沉积铂(Pt)、钨(W)等金属保护层。...
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