Pro 系列光学显微镜透射光和反射光台式测微尺

Pro 系列台式测微尺为带证书的高精度校准用测微尺，包括透射光与反射光两个系列，以及双刻度校准玻片、图像分析标准玻片和通用校准玻片。刻度安装于不锈钢玻片座，每片独立编号，刻度由 0.13mm 厚盖玻片保护。

Pro 系列台式测微尺可选三种证书：GRATS 溯源（Graticules 比对证书）、UKAS 校准证书、NPL 校准证书。货号后缀含义：G 为 GRATS 溯源，U 为 UKAS 校准证书，N 为 NPL 校准证书，NR 为 NPL 证书复检。

透射光 Pro 系列台式测微尺

包括水平与交叉式台式测微尺，有公制与英制刻度：水平刻度有 10、20、1、0.1mm 及 0.1 英寸规格，交叉刻度为 1×1mm。

反射光 Pro 系列台式测微尺

刻度蚀刻于高反射真空镀膜金属层上，在反射光（入射光）照明（如金相显微镜）下，刻度以亮色呈现在黑色背景上。有 1、10、20mm 及 0.1 英寸水平刻度。

双刻度校准玻片

双刻度校准台式测微尺兼具英制／公制双刻度，透射光版（玻璃上黑色刻度）与反射光版（深色背景上浅色刻度）均有，适用于体视显微镜、视频显微镜及成像系统等大视场光学产品的校准。刻度制作于硼硅酸盐（B270 型）玻璃玻片（76×25×1.5mm），每片带唯一序列号，配抛光木盒。

• 水平刻度：50mm／0.1mm 分度及 2 英寸／0.005 英寸分度；
• 线宽 12µm；
• 透射光版货号 2285-41，反射光版货号 2285-45；后缀 U 为带 UKAS 校准证书。

图像分析标准玻片（2285-26N）

图像分析标准玻片用于识别光学成像系统中的偏差与畸变，也可用作高精度台式测微尺。附使用建议与独立校准证书。玻片尺寸 75×25mm，方格精度 ±0.1µm，圆点精度 ±0.3µm（根号 2 点阵中最小与最大的两个圆点为 ±0.5µm）。四个测试区域分别为：

• 400µm×400µm 方格，细分为 200、100、50、25µm 小方格，用于检测整体图像畸变，也可用作精密二维台式测微尺；
• 20×17 点阵（标称直径 15µm），用于识别透镜畸变，即设置视场以消除边缘畸变；
• 根号 2 点阵（直径 3–48µm），用于测定相机与显微镜系统的阈值水平；
• 对数标称分布点阵（100 个点，直径 4.5–27µm），可测定均值与标准差并与证书值比较，为全屏最大动态范围的理想化分布。

附 NPL（英国国家物理实验室，相当于美国 NIST）校准证书。注：NPL 为国际计量组织成员，其全部测量可直接溯源至法国巴黎的国际米原器，证书国际可溯源。

通用校准玻片（2285-42）

Pro 系列通用校准玻片将大量精密图像／图案集中于一片透射光玻片，是校准图像分析系统与高级显微镜的理想选择。单片多图案，校准与检查显微镜及图像分析系统分辨率快捷经济。单片含 14 种图像／图案，玻璃玻片上镀铬；钠钙玻璃玻片，76×25×1.5mm；独立序列号可溯源；配抛光木盒。

证书说明

• GRATS 溯源（Graticules 比对证书）：制造商校准，提供可溯源标准；适用于不要求 NPL 或 UKAS 校准精度的应用。Graticules 将刻度与经 NPL 校准的内部标准比对，出具比对证书并附精度声明。
• UKAS 校准证书：UKAS 认可实验室在刻度选定点测量并出具校准证书，国际互认。
• NPL 校准证书：由英国国家物理实验室（NPL）执行校准。

产品型号

货号后缀含义：G 为 GRATS 溯源，U 为 UKAS 校准证书，N 为 NPL 校准证书，NR 为 NPL 证书复检。