透射电镜（TEM）的结构与操作

2026-03-23 | 行业新闻

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/JF7ODidI_s2Je4i-ugzgow 透射电子显微镜（TEM）是微观分析的核心仪器，由照明系统、物镜/样品台、成像系统三部分组成，统称 “镜筒”。电子沿镜筒向下传播，经各组件协同作用，完成电子束产生、样品作用、图像与衍射花样输出的全过程。本文将讨论各系统的结构、操作流程及校准方法，为仪器使用提供基础参考。 （1）照明系统：电子束的产生与调控...

商业超高分辨率显微镜的技术创新与应用

2026-03-23 | 行业新闻

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/LuG8dimRVGQiAsjrxwWSmQ 超高分辨率显微镜技术的飞速发展，为生命科学研究提供了前所未有的观测工具，让科研人员能以纳米级精度看透细胞内部的精细结构和动态变化。 Louisa...

全自动离子溅射仪 JY-S120A：扫描电镜非导电样品镀膜的标准化解决方案

2026-03-19 | 公司新闻

  为什么 SEM 样品需要导电镀膜？ 扫描电子显微镜通过高能电子束对样品表面进行扫描，激发二次电子（SE）、背散射电子（BSE）及特征 X 射线等信号，实现样品形貌与成分信息的采集。然而，对于陶瓷、聚合物、生物组织、矿物等电导率低或绝缘的样品，入射电子束无法通过样品导走，导致样品表面产生负电荷积累——即”荷电效应（Charging Effect）”。 荷电效应的主要危害包括： 图像出现亮斑、飘移或撕裂变形 成像分辨率下降，细节丢失 能谱（EDS）分析中样品位置漂移，影响元素定量精度...

透射电镜中的EDS空间分辨率与最小检测限

2026-03-19 | 行业新闻

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/6ouN6rpV5QlFLBb1EK9vlg 在透射电镜（TEM）的X射线分析领域，研究人员始终致力于获取接近空间分辨率极限的物质信息，而这一目标的实现离不开对各项控制因素的深入理解。空间分辨率与最小检测限作为分析过程中的核心指标，二者存在紧密且复杂的关联，同时TEM样品厚度的精准测量也对分析结果的可靠性起着关键作用。 随着TEM –...

碳保护层：FIB 制备优质（S）TEM 样品的优选方案

2026-03-18 | 行业新闻

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/5V-za4_IiBuSf8K768QXdA 制备扫描电镜（SEM）或透射电子显镜（TEM）样品时，聚焦离子束（FIB）横截面切割是关键步骤。为避免切割中出现条纹伪影，同时防止离子注入损伤样品最外层约 50 纳米区域，行业常用 FIB 辅助化学气相沉积（CVD）技术沉积铂（Pt）、钨（W）等金属保护层。...