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透射与扫描透射电镜中的振幅衬度

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/6XRJFWi0GrophTAv6b740w 透射电镜(TEM)和扫描透射电镜(STEM)是材料表征的核心技术,能看清从原子到微米尺度的微观结构与成分细节——而这些细节,正是决定材料性能和功能的关键。...

透射电镜中的菊池衍射

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/SEEYi7NDP7eY0g7B4nsDNA 菊池衍射(Kikuchi Diffraction)作为电子衍射的重要特殊情况,与后续将探讨的会聚束电子衍射(CBED)技术一脉相承,核心价值在于为非薄晶体样品的结构分析提供高精度解决方案。...

4D-STEM用高动态范围像素阵列探测器的研发与应用

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/g1UdMoCOoRnfYuxOo3vNiw 扫描透射电镜(STEM)是观察材料微观结构、分析材料性能的核心工具,而探测器是技术的核心——电子束穿过样品后的散射信号,全靠探测器捕捉、转化为可分析的图像。 传统STEM探测器受动态范围、成像速度和单电子识别能力的限制,只能捕捉电子散射的局部区域,无法完整记录衍射图案,也难以同时获取多种成像信息。...

选TKD,还是选PED?

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/GXYxTbIozwYBb0K_rXVE5Q 在纳米材料的微观结构研究中,透射菊池衍射(TKD)和旋进电子衍射(PED)是两种常用的高空间分辨率分析技术,前者依托扫描电镜(SEM)开展测试,后者则基于透射电镜(TEM),二者均能实现晶粒取向差、晶粒尺寸分布的观测以及晶粒织构的定量分析。 为明确两种技术在晶粒特征测量中的具体表现、差异成因及适用场景,澳大利亚悉尼大学Glenn...

透射电镜中的电子能量损失谱(EELS)

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/o5XOS4GfSDE38o22fIAA8g 电子能量损失谱(EELS)是分析型电镜(AEM)里的核心表征技术,简单来说,它就是通过分析高能电子穿过样品后的能量分布情况,来获取样品的原子化学性质、电子结构、微观结构等关键信息的技术。...

透射电镜中的电子探测器

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/SWi0Nvdhkcn9wOPsh6TfQA 人类的眼睛无法直接感知电子,在透射电镜(TEM)中 “看见” 电子,核心是把电子与样品相互作用形成的无形电子强度分布,通过探测(显示)和记录两步,转化为肉眼能观测的可见光分布。随着电子成像与存储技术发展,这一过程正从模拟向数字变革,数字数据因定量分析便捷,逐渐取代传统照相数据。 电子探测与显示...
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