FIB缺陷工程：纳米世界的”精准外科手术”
作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/qguSceaDGVm5TJ-XK0BKtw 想象一下，如果你有一支可以在原子尺度上"绘画"的神奇画笔，能够精准地在材料中"点缀"几个原子，就能让普通材料拥有超能力——这就是FIB缺陷工程的魅力所在。 🎯什么是FIB缺陷工程？ 上期我们聊了FIB减材加工。今天我们来聊聊FIB的另一项"绝技"——缺陷工程。...
FIB专题|减材加工——精准雕琢的纳米艺术
聚焦离子束（FIB）技术作为纳米加工的重要工具，在材料科学和微纳制造等领域发挥着不可替代的作用。本文将深入探讨FIB减材加工的基本原理、关键技术及其在各个领域的创新应用。
扫描电镜——现代法医学的”福尔摩斯”
在现代法医学中，扫描电子显微镜（SEM）已成为不可或缺的”神兵利器”。它不仅能将物体放大几万倍，更神奇的是，结合X射线能谱分析技术（EDX），还能”看到”物质的化学成分！
热烈庆祝广州竞赢用户成功发表顶刊论文|JY-S100为电子显微成像提供可靠助力
客户的成功，是衡量我们产品与服务价值的最终标准，广州竞赢自主研发的国产设备也已经出现在了一些高品质论文中。这是我们最近收集到的一篇深圳大学发表在土木工程领域国际权威期刊 《Construction and Building Materials》中的论文 。
扫描电镜——现代法医学的”福尔摩斯”
在现代法医学中，扫描电子显微镜（SEM）已成为不可或缺的”神兵利器”。它不仅能将物体放大几万倍，更神奇的是，结合X射线能谱分析技术（EDX），还能”看到”物质的化学成分！
半导体异质结构中位错等应变诱导缺陷的电镜观察
高分辨率透射电镜（HRTEM）等先进技术进一步揭示了错配位错在原子尺度上适应应变的机制。热力学研究证实，通过位错形成实现的应变松弛对维持半导体器件的结构完整性具有重要意义。
扫描电镜（SEM）样品安装技术指南
在进行扫描电子显微镜（SEM）观察时，样品的安装常常被忽视，但它对成像效果的影响与前期所有准备工作一样关键。对样品安装步骤予以充分的重视和细致的操作，将在实际成像中带来显著收益。 合理安装样品可确保： 所需方向的准确定位，减少不必要的样品台调节； 良好的机械稳定性，降低因振动或漂移造成的图像模糊； 有效的电气接地，防止图像中出现充电伪影。 实现理想样品安装的三大要素 1. 样品方向：与电子束/探测器系统的相对关系 将电子束想象成“你的视线”，而探测器则如“太阳”，决定了图像中的光照方向与阴影效果。...
高分辨冷冻电镜的样品制备技术与方法论
作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/5knEtUmuutzHSsXnUMCpZg 近年来，冷冻电镜（cryo-EM）技术在结构生物学领域取得了革命性的进展。这些进步主要归功于几个关键因素：量子效率更高的直接电子探测器，配备自动对准和数据采集功能的现代化电镜系统，用于密度图分类和三维重建的算法软件的显著改进，以及更为稳定、可重复的样品支撑技术。这些技术创新共同推动了冷冻电镜结构测定能力的飞跃式发展，使其成为解析生物大分子结构的强大工具。...
关键尺寸扫描电镜（CD-SEM）技术解读
无论是实验室通用型还是用于集成电路结构和尺寸测量的专用设备，SEM的基本工作原理基本一致。SEM之所以得名，是因为它利用细聚焦的电子束，以精确的光栅扫描模式（通常为矩形或正方形）逐点扫描样品表面。
SEM的电子束来自电子源，通常在0.2千伏到30千伏的加速电压下运行。在半导体生产中，CD-SEM多在0.4千伏至1千伏的电压范围内工作。电子束沿镜筒向下，通过一个或多个电子光学聚光镜被缩小，其直径从几微米逐渐收缩到纳米量级。
在SEM中实现4D-STEM及其晶体学应用
作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/tp4Kp5kogCBN43bjx7JT0A 四维扫描透射电镜（4D-STEM）是一种通过聚焦电子束在电子透明样品上扫描，同时收集实空间和倒易空间的二维图像的技术。这种方法产生四维数据集，因此得名4D-STEM。 需要明确的是，这里的维度并不涉及时间；而是指所得四维数据集包含空间和衍射信息。具体来说，两个维度代表样品中的x和y坐标（实空间位置），而另外两个维度代表每个位置处的衍射图案中的kx和ky坐标（倒易空间）。...
