SEM碳基底锡球颗粒分辨率标样

描述

碳基底上的锡球由于其近乎完美的圆形，对于SEM、FESEM、FIB散光校正非常有用。在SEM、FESEM或FIB不允许使用金的情况下，碳上的锡也被用来代替碳上的金，例如在半导体应用中。圆形锡球对于测试图像质量、失真、对比度、亮度和探针尺寸特别有用。有低、中、高三种放大率的版本。

碳基底上的锡球，低放大倍数

尺寸范围为 1 -10µm，适用于台式 SEM 以及 SEM、FESEM 和 FIB 的低倍放大测试。放大范围约为 250 x – 5000x。可选择单标样不带样品台，或者提前安装在不同的样品台上。ø6.4 mmx 0.7 mm。

碳基底上的锡球，中等放大倍数

锡球分散在 ø6mm x 0.5mm 的碳圆片上，大部分尺寸在 10nm 到 100nm 之间。散光校正和分辨率测定的理想选择。推荐用于不能容忍碳基底金颗粒的半导体行业中的 SEM、FESEM 和 FIB。可选择单标样不带样品台，或者提前安装在不同的样品台上。

载网上的碳基底上的锡球，高放大倍数

锡球分散在碳基底表面，碳基低由 3 mm带标签的狭缝铜网(狭缝尺寸 0.4 x 2 mm)支撑,使用范围约为 3 – 60 nm ｡锡球很容易定位在缝的侧面｡相对较薄的载网使您的样品和锡球标样处于同一水平｡可选择单标样不带样品台，或者提前安装在不同的样品台上。

碳基底上的锡球，放大范围广

锡球分散在ø6.15mm x 2.2 mm的碳圆片上。<20 – 400nm 的近似尺寸范围。适合散光矫正的球形。粒径范围广，球体较大，在低电压下更易于使用。推荐用于不能容忍碳基底金颗粒的半导体行业中的 SEM、FESEM 和 FIB。可选择单标样不带样品台，或者提前安装在不同的样品台上。