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原子探针断层扫描(APT)技术解读

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/vDqt0WvO__HICXVbMtoP_g 原子探针断层扫描(Atom probe tomography,APT))能实现材料的三维成分成像,空间分辨率可达亚纳米级别,原则上对探测元素的质量没有上下限限制,且质量分辨率通常足以区分每种元素的各个同位素。...

浅谈共聚焦拉曼与扫描电镜联用技术

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/jlrjc2BvYWiK75EkYF6jVw 无论是天然矿物还是合成材料,其全面表征往往需要结合多种分析技术,单一方法难以同时覆盖形貌-元素-结构的多维度信息。...

PFIB(Xe)铣削制备软X射线透明样品

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/FUIt0EoO1htuWe6HucE5sw 同步辐射光源产生的X射线具有高亮度与能量可调节特性,已成为材料科学、物理学等领域的核心研究工具。其中,能量最高约2 keV的软X射线,因覆盖多种元素的核心共振电子跃迁能级,不仅能实现材料的元素特异性分析,还可同步获取磁态与化学态信息;同时,其波长比可见光短两个数量级,使软X射线显微镜技术具备更高的空间分辨率,为纳米尺度结构表征提供了可能。...

扫描电镜超低电压成像技术讨论

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/Z6QeHlmVP034dpckYm7kDg 在纳米科技领域,SEM 是低维纳米材料研发核心表征工具,但传统 LV-SEM 面对核壳、异质结等精细结构有一定局限,超低电压SEM(VLV-SEM)恰好填补空白。 Laura Zarraoa 等人以Verios 460 SEM 为核心,探索 < 1kV 超低电压下低维纳米结构成像规律,以 VLS 法生长的 Si...
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