我们将以 TEM 的历史发展作为开篇，因为这段发展历程与”为什么选择TEM进行材料表征”的诸多理由密切相关。随着仪器技术的持续进步，采用TEM的科学依据也在不断增强。

FIB诱导沉积（FIBID）是以气体前驱体为原料的自下而上原型制造方法。其原理是利用离子束辐照选择性分解吸附在基底表面的前驱体分子，使其生成挥发性与非挥发性产物；前者由真空系统抽走，后者在目标区域沉积，从而直接“书写”纳米结构。

图像的分辨率和清晰度对于在各种成像方法中提供准确的尺寸测量至关重要。为简化讨论，本研究主要针对扫描电子显微镜（SEM），但该算法可应用于众多其他成像技术。

透射电镜（TEM）是研究各种材料微观结构、处理效果及固态反应的重要表征技术。然而，利用该技术探索样品真实结构时，制约因素通常并非电子显微镜的分辨率，而是样品制备质量（Kestel, 1995; Hytch和Chevalier, 1994）。

TEM表征要求制备对电子束透明的薄材料截面。虽然某些材料可采用适当的化学蚀刻程序制备TEM样品，但随着研究对象日趋复杂，离子减薄技术得到了广泛应用。这主要因为复杂材料缺乏统一的化学蚀刻条件，而离子减薄具有广泛的材料适用性，已成为通用的样品制备方法。尽管如此，离子减薄过程中的假象问题不容忽视，同时还需考虑观察过程中电子束产生的假象效应（Brown和Humphreys, 1998）。

生物样品进入电高真空环境前必须进行”保存”稳定化处理，在各种已开发方法中，投入式冷冻技术能最大程度保持样品接近天然状态因此成为首选方法。

投入式冷冻技术是将样品在载网上铺成薄膜后快速投入低温介质（通常是液体乙烷）中，技术成功关键在于载网和样品性质、均匀薄膜形成、低温介质温度性质以及投入条件的精确控制。

本文系统回顾了投入式冷冻的基本原理、关键技术、仪器设备、常见问题和安全注意事项。

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/OlOeQjfga-9CJh4nOk-fuw 聚焦离子束（FIB）技术之所以应用广泛，源于离子束与样品相互作用时产生的丰富物理化学现象。在这一过程中，溅射效应实现了材料的精密去除，离化过程为成像提供了信号源，沉积反应构建起微纳结构，而晶格损伤则为材料改性开辟了新途径——这些多重效应的协同作用，共同奠定了FIB技术深厚的理论基础与广阔的应用前景。如图1所示，当前主流FIB加工技术已形成完整的层次化体系。...

作者：孙千 本文转载自公众号：老千和他的朋友们。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/qguSceaDGVm5TJ-XK0BKtw 想象一下，如果你有一支可以在原子尺度上"绘画"的神奇画笔，能够精准地在材料中"点缀"几个原子，就能让普通材料拥有超能力——这就是FIB缺陷工程的魅力所在。 🎯什么是FIB缺陷工程？ 上期我们聊了FIB减材加工。今天我们来聊聊FIB的另一项"绝技"——缺陷工程。...

聚焦离子束（FIB）技术作为纳米加工的重要工具，在材料科学和微纳制造等领域发挥着不可替代的作用。本文将深入探讨FIB减材加工的基本原理、关键技术及其在各个领域的创新应用。

在现代法医学中，扫描电子显微镜（SEM）已成为不可或缺的”神兵利器”。它不仅能将物体放大几万倍，更神奇的是，结合X射线能谱分析技术（EDX），还能”看到”物质的化学成分！