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电子显微镜在材料与物理领域应用的里程碑事件梳理

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/jzWVFPO_Jby-DyFAiCCDDQ 透射电子显微镜(transmission electron microscopy, TEM)对材料科学与工程领域的核心贡献,聚焦于晶体缺陷的成像与分析。这类缺陷——尤其是与位错、沉淀物及其界面、晶界相关的缺陷 —— 主导着金属、合金、陶瓷、复合材料乃至部分半导体的力学、物理及化学性能。...

激光驱动的超快透射电子显微镜(UTEM)

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/rHizZiQE4sl1u6MgTlCrdw 在微观世界研究中,同时捕捉原子级空间细节与飞秒级动态过程,是实验物理学、材料科学等领域的重要难题。从微米到原子的空间尺度,再到微秒到阿秒的时间尺度,物质的微观结构与动态演化,是其宏观性质的根本决定因素。...

体电子显微术(vEM)入门指南

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/QyCtlRQrl9iJ3cKkI9uU4Q 体电子显微镜(vEM,又称 volume EM)是生物医学研究里常用的超高精度成像技术,能把细胞、组织,还有线虫、果蝇这类小型生物的三维结构,以纳米级分辨率清晰展现,被《自然》杂志列为 2023 年值得关注的七大技术之一。 要明确vEM的技术范围,通常这么定义:在电镜下,对树脂包埋的细胞或组织做连续深度超1微米的系列成像,不管具体成像方式。...

透射电镜中的电子源与电子枪

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/IV3LERKhLNaC0HG4tb89Lw 透射电子显微镜(TEM)的成像精度和分析能力,核心靠电子源与电子枪的性能。电子源是电子束的源头,提供稳定可控的电子束照射样品;电子枪是集成控制组件,二者共同决定了TEM的分辨率、信号强度和应用范围。 电子源 TEM中主流电子源分为热电子发射源和场发射源两大类,衍生的电子枪在工作原理、性能参数和适用场景上各有侧重。...

FIB-SEM中碳污染的监测与调控

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/XjXvdX4shTWGwNxPaliZbw 在扫描电镜(SEM)、聚焦离子束(FIB)及 FIB-SEM系统的日常使用中,碳污染一直是个让人头疼的问题,严重制约着实验结果的准确性和样品制备质量。...

扫描电镜及关联技术的锂电行业应用案例

作者:孙千 本文转载自公众号:老千和他的朋友们。原文地址:https://mp.weixin.qq.com/s/3EpTkGRRwpamQ6MJpB4TGQ 扫描电镜(SEM)采用聚焦电子束对样品表面进行逐点扫描成像,通过收集二次电子、背散射电子和吸收电子等多种信号源,经过放大和显示处理,能够获取样品的表面形貌、粗糙度等关键信息。 SEM的核心优势在于其亚纳米级的高空间分辨率(<1nm)、宽敞的操作腔室、卓越的环境适应性,以及与EDS、FIB等多种技术的出色兼容性。...
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