透射电子显微镜（TEM）的成像精度和分析能力，核心靠电子源与电子枪的性能。电子源是电子束的源头，提供稳定可控的电子束照射样品；电子枪是集成控制组件，二者共同决定了TEM的分辨率、信号强度和应用范围。

在扫描电镜（SEM）、聚焦离子束（FIB）及 FIB-SEM系统的日常使用中，碳污染一直是个让人头疼的问题，严重制约着实验结果的准确性和样品制备质量。

扫描电镜(SEM)采用聚焦电子束对样品表面进行逐点扫描成像，通过收集二次电子、背散射电子和吸收电子等多种信号源，经过放大和显示处理，能够获取样品的表面形貌、粗糙度等关键信息。

SEM的核心优势在于其亚纳米级的高空间分辨率(<1nm)、宽敞的操作腔室、卓越的环境适应性，以及与EDS、FIB等多种技术的出色兼容性。 基于这些技术特点，SEM在电池负极、正极、隔膜、固态电解质材料及其界面的形貌、孔隙率和曲折度研究领域获得了广泛而深入的应用。

转盘共聚焦的性能，不仅取决于 Nipkow 盘的设计，还与整个系统的集成度密切相关。不同类型的圆盘与设备，针对生物荧光成像和工业检测形成了差异化方案，各自在透光率、分辨率与实用性之间寻找最优解。

拉曼散射的本质是激发光子与分子间的非共振相互作用，这种作用机制决定了其信号强度天然微弱，在常规测量几何结构中，可探测的拉曼光子数量极为有限。

原子探针断层扫描（Atom probe tomography，APT））能实现材料的三维成分成像，空间分辨率可达亚纳米级别，原则上对探测元素的质量没有上下限限制，且质量分辨率通常足以区分每种元素的各个同位素。

 Selecting optimal support grids for super-resolution cryogenic correlated light and electron microscopy 作者： Mart G. F. Last, Maarten W. Tuijtel, Lenard M. Voortman, Thomas H. Sharp...

电子光学系统要获得高亮度、纳米级聚焦电子束，尖端阴极是核心部件。早年商用系统里，室温场发射阴极用得最多。过去二三十年间，多款高温尖端阴极慢慢具备了商用价值，成了性能更优的电子源选择。

电子光学系统要获得高亮度、纳米级聚焦电子束，尖端阴极是核心部件。早年商用系统里，室温场发射阴极用得最多。过去二三十年间，多款高温尖端阴极慢慢具备了商用价值，成了性能更优的电子源选择。

 Xe PFIB 铣削技术，旨在通过更高的铣削速度简化制备流程，同时建立原位透明度检测方法，拓展软X射线透明样品的适用材料范围。